Вместе с министром науки, высшего образования и научно-технологического развития Омской области Александром Кольцовым делегация СО РАН посетила омские вузы и организации.

Одним из ключевых пунктов в программе первого дня визита стало посещение Омского НИИ приборостроения (входит в Холдинг Росэл Госкорпорации Ростех). Для гостей провели ознакомительную экскурсию по научно-техническому комплексу микроэлектроники, где представили результаты исследований, проводимых предприятием совместно с Институтом радиофизики и физической электроники Омского научного центра СО РАН. Также была представлена продукция собственной разработки института, широко востребованная отраслью: опорные генераторы, микросборки, ПАВ- и LC-фильтры, LTCC-керамику. Особый интерес вызвала многослойная энергетическая реакционная нанофольга для высокопрочного соединения электронных компонентов – инициативная разработка АО «ОНИИП».

Побывала делегация и в музее трудовой славы предприятия, где гостям рассказали об истории образования предприятия и познакомили с образцами нескольких поколений техники радиосвязи. По окончании экскурсии Валентин Пармон оставил памятную запись в Книге почётных гостей института.

Завершился визит итоговым совещанием, в ходе которого заместитель генерального директора по науке АО «ОНИИП», и. о. директора ИРФЭ ОНЦ СО РАН, к.ф.-м.н. Сергей Кривальцевич выступил с докладом, в котором представил результаты научной деятельности и перспективы развития Института радиофизики и физической электроники ОНЦ СО РАН. В ходе заседания стороны обсудили предложения по сотрудничеству в области создания новых технологий и разработок. Валентин Николаевич высказал готовность оказать поддержку совместным научным исследованиям ОНИИП и ИРФЭ ОНЦ СО РАН.

Источник: https://oniip.ru/predpriyatie/novosti/3977/