Описание

Контроль:
цифровых СБИС: тестовые системы на 512 каналов, тактовая частота от 50 мГц до 400 МГц, длительность периода от 20 нс, длительность фронта импульса 5 нс при напряжении 5В;
цифро-аналоговых и аналого-цифровых ИС: тестовые системы на 128 каналов, крутизна нарастания фронта 1,5 В/нс, дифференциальная и интегральная нелинейность меньше чем 0.00008% FSR, разрешающая способность по напряжению до 5 мВ, разрешающая способность по току до 100 нА, частота до 50 МГц с погрешностью ±0,01%, влияние изменения напряжения питания/опорного напряжения до 120 дБ, динамический диапазон до 90 дБ;
аналоговых ИС: измерительное разрешение по току до 1 фА, измерительное разрешение по напряжению до 1 нВ;
связных и радиотехнических СВЧ ИС: частота от 50 МГц до 20 ГГц;
полупроводниковых приборов: напряжения от 1мкВ до 1100В, тока в постоянном режиме от 1пА до 100А, в импульсном режиме от 1А до 10А;
резисторов, конденсаторов, дросселей, трансформаторов, резонаторов: частота от 20 Гц до 3 ГГц, сопротивление от 0,01 мОм до 99,9999 МОм, импеданс от 3 мОм до 500 МОм, емкость от 0,01 фФ до 9,9999 Ф, индуктивность от 0,01 нГн до 99,9999 кГн, добротность от 0,01 до 99999,9, проводимость от 300 мкСм до 300 См, контроль шага частоты от 1 Гц вплоть до единиц ГГц, методы ГОСТ РВ, MIL-STD;
твердотельных источников света, фотодиодов и устройств на их основе;
реле;
модулей, плат и сетевых устройств;
коммутационных изделий;
установочных изделий.